Оцінка часу пошуку несправного елементу в електронних системах засобами діагностичного комплексу „МАРС“
/ 0
- Деталі
- Категорія: Інформаційні технології, системний аналіз та керування
- Останнє оновлення: 16 травня 2013
- Опубліковано: 15 листопада 2012
- Перегляди: 6657
Автори:
Г.Г. Сергеєв, кандидат технічних наук, доцент, Державний вищий навчальний заклад „Севастопольський національний технічний університет“, доцент кафедри кібернетики та обчислювальної техніки, м. Севастополь, АР Крим, Україна
Реферат:
Мета. Розгляд нової методики для оцінки часу локалізації місця несправності в радіоелектронній апаратурі. Дана методика дозволить об’єктивно визначити допустимі межі часу ремонту типових елементів заміни.
Методика. Як базовий засіб діагностики і ремонту розглядається програмно-апаратний комплекс „МАРС“, розроблений НТП „Укравіазаказ“ (м. Київ). У статті розглянуті питання актуальності завдання в цілому, проводиться аналіз публікацій по темі роботи.
Результати. Показано, що час технологічного циклу локалізації несправного елементу є адитивна функція трьох параметрів: часу завантаження тестового набору з бази даних в пам’ять ПЕВМ і передачі його в БКУ „МАРС“, часу „стартового“ прогону випробовуваного типового елементу заміни (ТЕЗ), необхідного для входу в робочий режим його функціонування, а також часу знімання осцилограм і моделювання функціональних елементів. Час завантаження – стохастична величина, яка залежить від характеристик комп’ютера. Час входу в режим – детерміновано і визначається параметрами тестового набору. Час роботи алгоритму, заснованого на зніманні осцилограм і моделюванні роботи елементів, стохастичне і може бути розраховано на підставі інформації про вірогідність відмов елементів схеми на етапі старіння. Приведені результати експериментів, які підтверджують можливість прогнозування часу ремонту в допустимих межах.
Наукова новизна. Запропоновано новий метод оцінки часу технологічного циклу ремонту радіоелектронної апаратури за умови використання комплексу „МАРС“ як засобу діагностики.
Практична значущість. Прогнозування часу діагностики в допустимих межах дозволяє аргументовано визначати норми вироблення в ремонтних підрозділах і обґрунтовувати вартість ремонтно-відновних робіт.
Список літератури / References:
1. Сергеев Г.Г. МАРС – новый комплекс для диагностики и ремонта радиоэлектронного оборудования ВСВСУ / Сергеев Г.Г., Иванов В.М. // Сьома наукова конференція „Новітні технології – для захисту повітряного простору“. – Харків: ХУПС, 2011. –79 с.
Sergeyev, G.G. and Ivanov, V.M. (2011), “The new complex for repair and diagnostic of electronic equipment “MARS” // Proc. Of the 7th Scientific Conference “New technologies for air space protection”, Kharkiv.
2. Медведев А.М. Сборка и монтаж электронных устройств. / Медведев А.М. – М.: Техносфера, 2007.
Medvedev, A.M. (2007), Sborka i montazh elektronnykh ustroistv [Assemblage and Installation of Electronic Devices], Technosfera, Moscow, Russia.
3. Гафт С. Стратегия контроля качества при переходе к бессвинцовым технологиям. / Гафт С., Матов Е. – Электроника НТБ. – 2005. – №5, С. 24–27..
Gaft, S. and Matov, Ye. (2005), “Quality assurance strategy at transition to lead-free technologies”, NTB Electronika, no.5. pp. 24–27.
4. Насонов А. Электрическое тестирование изделий высокой надёжности / Насонов А. // Печатный монтаж. – 2008. – № 5. – С. 32–34.
Nasonov, A. (2008), “Electric testing of products of high reliability”, Pechatnyi montazh, no.5, pp. 32–34.
5. Сергеев Г.Г. Оптимизация процесса поиска причины отказа РЭА в условиях дефицита информации / Г.Г. Сергеев, А.Л. Овчинников // Информационные технологии и компьютерная инженерия. – Винница: Изд-во ВНТУ, 2007. – №3(10) С. 45–49.
Sergeyev, G.G. and Ovchinnikov, A.L. (2007), “The optimization of the search process of a radio-electronic equipment failure in conditions of deficiency of the information”, Information technology and computer engineering, no.3(10), pp. 45–49.
6. Сергеев Г.Г. Новый подход к реализации программной системы единовременного тестирования дискретных и аналоговых устройств / Сергеев Г.Г. // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. – Хмельницький, 2007.–№1. С. 60–63
Sergeyev, G.G. (2007), “New realization of program system of discrete and analog devices testing”, Measuring and computer facilities in technological processes, no.3(10), pp. 60–63.
 2012_02_sergei
|
|
 2013-04-26  309.96 KB  1475 |
|
Архів журналу